Вы здесь
Concurrent Modular Processing for Automatic Test Pattern Generation
Количество экземпляров:
1
Вид:
Статья из сборника или журнала
Год:
1995
Стр.:
P.291-294
Библиография:
Bibliogr.: p.294
Издательство:
Источник:
Карточка:
В3.14, А3.23.
Refai M. K., Mahmoud M. Y..
Concurrent Modular Processing for Automatic Test Pattern Generation-Anaheim, Calgary.: Acta Press// Applied Informatics, 1995.-P.291-294
Bibliogr.: p.294
Таблица в старой библиотеке:
PAP12 892