Вы здесь

Concurrent Modular Processing for Automatic Test Pattern Generation

Количество экземпляров: 
1
Вид: 
Статья из сборника или журнала
Год: 
1995
Стр.: 
P.291-294
Библиография: 
Bibliogr.: p.294
Место издания: 
Издательство: 
Источник: 
Карточка: 

В3.14, А3.23.

Refai M. K., Mahmoud M. Y..

Concurrent Modular Processing for Automatic Test Pattern Generation-Anaheim, Calgary.: Acta Press// Applied Informatics, 1995.-P.291-294
Bibliogr.: p.294

Таблица в старой библиотеке: 
PAP12 892