Test generation within an expert environment | Мемориальная библиотека А.П. Ершова

Вы здесь

Автор:

Количество экземпляров:

1

Вид:

Статья из сборника или журнала

Год:

1991

Ключевые слова:

проектирование

микросхема

Стр.:

P.36-40

Источник:

Номер:

1

Том:

138

Карточка:

Б3.22, В5.21.

Cosgrove S., Musgrave G..

Test generation within an expert environment// IEE Proc.-1991, №1.-Vol. 138.-P.36-40

Таблица в старой библиотеке:

PAP2 197