Вы здесь
A Method to Recover Design Patterns Using Software Product Metrics
Количество экземпляров:
1
Вид:
Статья из сборника или журнала
Год:
2000
Ключевые слова:
Стр.:
P.318-335
Библиография:
Bibliogr.: p.334-335
Место издания:
Источник:
Том:
1844
Карточка:
Б3.55.
Kim H., Boldyreff C..
A Method to Recover Design Patterns Using Software Product Metrics-Berlin, Heidelberg.// Lecture Notes in Computer Science, 2000.-Vol. 1844.-P.318-335-(Lecture Notes in Computer Science).
Bibliogr.: p.334-335
Таблица в старой библиотеке:
PAP21 582