Вы здесь
Matually Enhancing Test Generation and Specification Inference
Количество экземпляров:
1
Вид:
Статья из сборника или журнала
Год:
2004
Ключевые слова:
Стр.:
P.60-69
Библиография:
Bibliogr.: p.67-69
Издательство:
Источник:
Том:
2931
Карточка:
Б3.54.
Xie T., Notkin D..
Matually Enhancing Test Generation and Specification Inference: Springer// Lecture Notes in Computer Science-2004.-Vol. 2931.-P.60-69
Bibliogr.: p.67-69
Таблица в старой библиотеке:
PAP28 260