Вы здесь

Mutation Testing Applied to Validate SDL Specifications

Количество экземпляров: 
1
Вид: 
Статья из сборника или журнала
Год: 
2004
Стр.: 
P.193-208
Библиография: 
Bibliogr.: p.206-208
Издательство: 
Том: 
2978
Карточка: 

Б3.54.

Sugeta T., Maldonado J. C., Wong W. E..

Mutation Testing Applied to Validate SDL Specifications: Springer// Lecture Notes in Computer Science-2004.-Vol. 2978.-P.193-208
Bibliogr.: p.206-208

Таблица в старой библиотеке: 
PAP28 358