Вы здесь

Automatic Test Generation for Digital Electronic Circuits

Количество экземпляров: 
1
Вид: 
Статья из сборника или журнала
Год: 
1994
Ключевые слова: 
Стр.: 
P.19-29.
Библиография: 
Bibliogr.: p.28.
Издательство: 
Источник: 
Номер: 
2
Том: 
73
Карточка: 

В3.14.

Chakraborty T. J., Davidson S., Maamari F., Cheng K. -T..

Automatic Test Generation for Digital Electronic Circuits: Springer// AT&T Technical J.-1994, №2.-Vol. 73.-P.19-29.
Bibliogr.: p.28.

Таблица в старой библиотеке: 
PAP8 960