Вы здесь

Built-In Self-Test for Digital Integrated Circuits

Количество экземпляров: 
1
Вид: 
Статья из сборника или журнала
Год: 
1994
Стр.: 
P.30-39.
Библиография: 
Bibliogr.: p.38-39.
Издательство: 
Источник: 
Номер: 
2
Том: 
73
Карточка: 

В3.14.

Agrawal V. D., Lin C. -J., Rutkowski P. W., Wu S., Zorian Y..

Built-In Self-Test for Digital Integrated Circuits: Springer// AT&T Technical J.-1994, №2.-Vol. 73.-P.30-39.
Bibliogr.: p.38-39.

Таблица в старой библиотеке: 
PAP8 961