Built-In Self-Test for Digital Integrated Circuits

Вы здесь

Автор:

Количество экземпляров:

Вид:

Статья из сборника или журнала

Год:

1994

Ключевые слова:

Стр.:

P.30-39.

Библиография:

Bibliogr.: p.38-39.

Издательство:

Источник:

Номер:

Том:

Карточка:

В3.14.

Agrawal V. D., Lin C. -J., Rutkowski P. W., Wu S., Zorian Y..

Built-In Self-Test for Digital Integrated Circuits: Springer// AT&T Technical J.-1994, №2.-Vol. 73.-P.30-39.
Bibliogr.: p.38-39.

Таблица в старой библиотеке:

PAP8 961