Non-Destructive Optical Techniques for Characterizing Semiconductor Materials and Devices | Мемориальная библиотека А.П. Ершова

Вы здесь

Автор:

Количество экземпляров:

1

Вид:

Статья из сборника или журнала

Год:

1994

Ключевые слова:

оптический

тестирование

Стр.:

P.66-76.

Библиография:

Bibliogr.: p.75-76.

Издательство:

Источник:

AT&T Technical J.

Номер:

2

Том:

73

Карточка:

В3.14.

Carver G. E., Gray M. L., Levkoff J., Miller B. W., Phatak S. B..

Non-Destructive Optical Techniques for Characterizing Semiconductor Materials and Devices: Springer// AT&T Technical J.-1994, №2.-Vol. 73.-P.66-76.
Bibliogr.: p.75-76.

Таблица в старой библиотеке:

PAP8 965