Вы здесь
In Black and White: An Integrated Approach to Class-Level Testing of Object-Oriented Programs
Количество экземпляров:
1
Вид:
Статья из сборника или журнала
Год:
1998
Ключевые слова:
Стр.:
P.250-295.
Библиография:
Bibliogr.: p.293-295
Номер:
3
Том:
7
Карточка:
Б3.51, Б3.54.
Chen H. Y., Tse T. H., Chan F. T., Chen T. Y..
In Black and White: An Integrated Approach to Class-Level Testing of Object-Oriented Programs// ACM Trans. on Software Engineering and Methodology-1998, №3.-Vol. 7.-P.250-295.
Bibliogr.: p.293-295
Таблица в старой библиотеке:
ACM5 754