Black-Box Test Reduction Using Input-Output Analysis

Вы здесь

Автор:

Количество экземпляров:

Вид:

Статья из сборника или журнала

Год:

2000

Ключевые слова:

Стр.:

P.173-177

Библиография:

Bibliogr.: p.177

Источник:

Номер:

Том:

Карточка:

Б3.54.

Schroeder P. J., Korel B..

Black-Box Test Reduction Using Input-Output Analysis// Software Engineering Notes-2000, №5.-Vol. 25.-P.173-177
Bibliogr.: p.177

Таблица в старой библиотеке:

ACM6 461