Вы здесь

Методы и алгоритмы тестирования памяти ЭВМ с обнаружением кратных функциональных неисправностей

Количество экземпляров: 
1
Вид: 
Автореферат
Год: 
2002
Ключевые слова: 
Стр.: 
18 с.
Библиография: 
Библиогр.: c.18
Место защиты: 
Номер специальности: 
05.13.15
Карточка: 

А3.13.

Новиков А. С..

Методы и алгоритмы тестирования памяти ЭВМ с обнаружением кратных функциональных неисправностей: Автореферат диссертации на ученую степень: канд. техн. наук.: 05.13.15.-Владивосток, 2002.-18 с.
Библиогр.: c.18

Таблица в старой библиотеке: 
DAR1MP 444