Вы здесь
Методы и алгоритмы тестирования памяти ЭВМ с обнаружением кратных функциональных неисправностей
Количество экземпляров:
1
Вид:
Автореферат
Год:
2002
Ключевые слова:
Стр.:
18 с.
Библиография:
Библиогр.: c.18
Место защиты:
Номер специальности:
05.13.15
Карточка:
А3.13.
Новиков А. С..
Методы и алгоритмы тестирования памяти ЭВМ с обнаружением кратных функциональных неисправностей: Автореферат диссертации на ученую степень: канд. техн. наук.: 05.13.15.-Владивосток, 2002.-18 с.
Библиогр.: c.18
Таблица в старой библиотеке:
DAR1MP 444