Вы здесь

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Proc./Joint IAPR International Workshops SSPR 2006 and SPR 2006. Hong Kong, China, August 2006

Количество экземпляров: 
1
Вид: 
Сборник или журнал
Год: 
2006
Стр.: 
939 p.
Место издания: 
Издательство: 
Том: 
4109
Карточка: 

Б4.35, В2.3.

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Proc./Joint IAPR International Workshops SSPR 2006 and SPR 2006. Hong Kong, China, August 2006Ed. by Yeung D. -Y., Kwok J. T., Fred A., Roli F..-Berlin, Heidelberg.: Springer, 2006.-Vol. 4109.-939 p.-(Lecture Notes in Computer Science).

Таблица в старой библиотеке: 
MONO6 86