Вы здесь
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Proc./Joint IAPR International Workshops SSPR 2006 and SPR 2006. Hong Kong, China, August 2006
Количество экземпляров:
1
Вид:
Сборник или журнал
Год:
2006
Ключевые слова:
Стр.:
939 p.
Редактор:
Место издания:
Издательство:
Том:
4109
Карточка:
Б4.35, В2.3.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Proc./Joint IAPR International Workshops SSPR 2006 and SPR 2006. Hong Kong, China, August 2006Ed. by Yeung D. -Y., Kwok J. T., Fred A., Roli F..-Berlin, Heidelberg.: Springer, 2006.-Vol. 4109.-939 p.-(Lecture Notes in Computer Science).
Таблица в старой библиотеке:
MONO6 86