Тестов не бывает слишком много... | Мемориальная библиотека А.П. Ершова

Вы здесь

Автор:

Юдицкий С. С.

Количество экземпляров:

1

Вид:

Статья из сборника или журнала

Год:

1995

Ключевые слова:

локальный

глобальный

тестирование

Стр.:

С.52-58.

Издательство:

Источник:

Номер:

3

Карточка:

А3.52, Б3.54.

Юдицкий С. С..

Тестов не бывает слишком много...: Springer// МИР ПК-1995, №3.-С.52-58.

Таблица в старой библиотеке:

PAP11 563