Вы здесь
Built-in Self-Testing of Random-Access Memories
Количество экземпляров:
1
Вид:
Статья из сборника или журнала
Год:
1990
Ключевые слова:
Стр.:
P.45-56.
Реферат:
Встроенный механизм самопроверки ОЗУ.
Источник:
Номер:
10
Том:
23
Карточка:
А5.13.
Franklin M., Saluja K..
Built-in Self-Testing of Random-Access Memories// Computer-1990, №10.-Vol. 23.-P.45-56.
Таблица в старой библиотеке:
PAP2 109