Вы здесь

Built-in Self-Testing of Random-Access Memories

Количество экземпляров: 
1
Вид: 
Статья из сборника или журнала
Год: 
1990
Стр.: 
P.45-56.
Реферат: 
Встроенный механизм самопроверки ОЗУ.
Источник: 
Номер: 
10
Том: 
23
Карточка: 

А5.13.

Franklin M., Saluja K..

Built-in Self-Testing of Random-Access Memories// Computer-1990, №10.-Vol. 23.-P.45-56.

Таблица в старой библиотеке: 
PAP2 109