Вы здесь

Using Static Analysis to Improve Automatic Test Generation

Количество экземпляров: 
1
Вид: 
Статья из сборника или журнала
Год: 
2000
Стр.: 
P.235-250.
Библиография: 
Bibliogr.: p.249-250
Издательство: 
Том: 
1785
Карточка: 

А3.53.

Bozda M., Fernandez J. -C., Ghirvu L..

Using Static Analysis to Improve Automatic Test Generation: Springer// Lecture Notes in Computer Science-2000.-Vol. 1785.-P.235-250.
Bibliogr.: p.249-250

Таблица в старой библиотеке: 
PAP21 270