Вы здесь
Using Static Analysis to Improve Automatic Test Generation
Количество экземпляров:
1
Вид:
Статья из сборника или журнала
Год:
2000
Стр.:
P.235-250.
Библиография:
Bibliogr.: p.249-250
Издательство:
Источник:
Том:
1785
Карточка:
А3.53.
Bozda M., Fernandez J. -C., Ghirvu L..
Using Static Analysis to Improve Automatic Test Generation: Springer// Lecture Notes in Computer Science-2000.-Vol. 1785.-P.235-250.
Bibliogr.: p.249-250
Таблица в старой библиотеке:
PAP21 270