Вы здесь
Demonstration of an Automated Integrated Testing Environment for CTI Systems
Количество экземпляров:
1
Вид:
Статья из сборника или журнала
Год:
2001
Ключевые слова:
Стр.:
P.249-252
Библиография:
Bibliogr.: p.252
Источник:
Том:
2029
Карточка:
Б3.54.
Niese O., Nagelmann M., Hagerer A., Kolodziejczyk-Strunck K., Goerigk W., Erochok A., Hammelmann B..
Demonstration of an Automated Integrated Testing Environment for CTI Systems// Lecture Notes in Computer Science-2001.-Vol. 2029.-P.249-252
Bibliogr.: p.252
Таблица в старой библиотеке:
PAP23 16