A Temporal Logic Based Theory of Test Coverage and Generation | Мемориальная библиотека А.П. Ершова

Вы здесь

Автор:

Количество экземпляров:

1

Вид:

Статья из сборника или журнала

Год:

2002

Ключевые слова:

покрытие

Стр.:

P.327-341

Библиография:

Bibliogr.: p.340-341

Издательство:

Источник:

Lecture Notes in Computer Science

Том:

2280

Карточка:

Б2.1, Б3.54.

Hong H. S., Lee I., Sokolovsky O., Ural H..

A Temporal Logic Based Theory of Test Coverage and Generation: Springer// Lecture Notes in Computer Science-2002.-Vol. 2280.-P.327-341
Bibliogr.: p.340-341

Таблица в старой библиотеке:

PAP24 921