Extended Model-Based Testing toward Hide Code Coverage Rate | Мемориальная библиотека А.П. Ершова

Вы здесь

Автор:

Количество экземпляров:

1

Вид:

Статья из сборника или журнала

Год:

2002

Ключевые слова:

тестирование

Стр.:

P.310-320

Библиография:

Bibliogr.: p.319-320

Издательство:

Источник:

Lecture Notes in Computer Science

Том:

2349

Карточка:

Б3.54.

Takahashi J., Kakuda Y..

Extended Model-Based Testing toward Hide Code Coverage Rate: Springer// Lecture Notes in Computer Science-2002.-Vol. 2349.-P.310-320
Bibliogr.: p.319-320

Таблица в старой библиотеке:

PAP25 170