Interaction Testing in an Embedded System Using Hardware Fault Injection and Program Mutation | Мемориальная библиотека А.П. Ершова

Вы здесь

Автор:

Количество экземпляров:

1

Вид:

Статья из сборника или журнала

Год:

2004

Ключевые слова:

тестирование

встроенный

Стр.:

P.192-204

Библиография:

Bibliogr.: p.204

Издательство:

Источник:

Lecture Notes in Computer Science

Том:

2931

Карточка:

Б3.54.

Sung A., Choi B..

Interaction Testing in an Embedded System Using Hardware Fault Injection and Program Mutation: Springer// Lecture Notes in Computer Science-2004.-Vol. 2931.-P.192-204
Bibliogr.: p.204

Таблица в старой библиотеке:

PAP28 269