Вы здесь
Good Random Testing
Количество экземпляров:
1
Вид:
Статья из сборника или журнала
Год:
2004
Ключевые слова:
Стр.:
P.200-212
Библиография:
Bibliogr.: p.211-212
Место издания:
Источник:
Том:
3063
Карточка:
Б3.54.
Chan K. P., Chen Y., Towey D..
Good Random Testing-Berlin, Heidelberg.// Lecture Notes in Computer Science, 2004.-Vol. 3063.-P.200-212-(Lecture Notes in Computer Science).
Bibliogr.: p.211-212
Таблица в старой библиотеке:
PAP29 36