Вы здесь
A Simple Testing Technique for Embedded Systems
Количество экземпляров:
1
Вид:
Статья из сборника или журнала
Год:
2004
Ключевые слова:
Стр.:
P.159-170
Библиография:
Bibliogr.: p.169-170
Место издания:
Издательство:
Источник:
Том:
3144
Карточка:
Б3.54, А3.54.
Fouchal H., Rollet A..
A Simple Testing Technique for Embedded Systems-Berlin, Heidelberg.: Springer// Lecture Notes in Computer Science, 2004.-Vol. 3144.-P.159-170-(Lecture Notes in Computer Science).
Bibliogr.: p.169-170
Таблица в старой библиотеке:
PAP29 527