Вы здесь
Factorized test generation for multi-input/output transition systems
Количество экземпляров:
1
Вид:
Статья из сборника или журнала
Год:
1998
Ключевые слова:
Стр.:
P.67-82
Библиография:
Bibliogr.: p.82
Издательство:
Источник:
Карточка:
Б3.54.
Brinksma E., Heerink L., Tretmans J..
Factorized test generation for multi-input/output transition systems-Boston, Dordrecht.: Kluwer Academic Publishers// Testing of Communicating Systems (IFIP), 1998.-P.67-82
Bibliogr.: p.82
Таблица в старой библиотеке:
PAP29 759