Вы здесь

Factorized test generation for multi-input/output transition systems

Количество экземпляров: 
1
Вид: 
Статья из сборника или журнала
Год: 
1998
Стр.: 
P.67-82
Библиография: 
Bibliogr.: p.82
Место издания: 
Издательство: 
Карточка: 

Б3.54.

Brinksma E., Heerink L., Tretmans J..

Factorized test generation for multi-input/output transition systems-Boston, Dordrecht.: Kluwer Academic Publishers// Testing of Communicating Systems (IFIP), 1998.-P.67-82
Bibliogr.: p.82

Таблица в старой библиотеке: 
PAP29 759