Генерация тестовых данных для системного функционального тестирования FIFO-КЭШ-памяти микропроцессоров

Вы здесь

Автор:

Корныхин Е. В.

Количество экземпляров:

Вид:

Статья из сборника или журнала

Год:

2009

Ключевые слова:

Стр.:

С.218-227

Библиография:

Библиогр.: c.226-227

Источник:

Вычислительные методы и программирование

Номер:

Том:

Карточка:

Б3.54.

Корныхин Е. В..

Генерация тестовых данных для системного функционального тестирования FIFO-КЭШ-памяти микропроцессоров// Вычислительные методы и программирование-2009, №2.-Vol. 10.-С.218-227
Библиогр.: c.226-227

Таблица в старой библиотеке:

PAP31 482