Application of Fault Parallelism to the Automatic Test Pattern Generation for Sequential Circuits | Мемориальная библиотека А.П. Ершова

Вы здесь

Автор:

Количество экземпляров:

1

Вид:

Статья из сборника или журнала

Год:

1993

Ключевые слова:

последовательный

параллелизм

генерация

Стр.:

P.234-245.

Библиография:

Bibliogr.: p.244-245.

Издательство:

Источник:

Lecture Notes in Computer Science

Том:

732

Карточка:

В3.14.

Krauss P. A., Antreich K. J..

Application of Fault Parallelism to the Automatic Test Pattern Generation for Sequential Circuits: Springer// Lecture Notes in Computer Science-1993.-Vol. 732.-P.234-245.
Bibliogr.: p.244-245.

Таблица в старой библиотеке:

PAP7 94