Trends in Digital Device Test Methodologies | Мемориальная библиотека А.П. Ершова

Вы здесь

Автор:

Количество экземпляров:

1

Вид:

Статья из сборника или журнала

Год:

1994

Ключевые слова:

методология

Стр.:

P.10-18.

Библиография:

Bibliogr.: p.17.

Издательство:

Источник:

AT&T Technical J.

Номер:

2

Том:

73

Карточка:

В3.14.

Crane F. E., Davidson S., Kane J., Stroud C. E., Wu S..

Trends in Digital Device Test Methodologies: Springer// AT&T Technical J.-1994, №2.-Vol. 73.-P.10-18.
Bibliogr.: p.17.

Таблица в старой библиотеке:

PAP8 959