Automatic Test Generation for Digital Electronic Circuits

Вы здесь

Автор:

Количество экземпляров:

Вид:

Статья из сборника или журнала

Год:

1994

Ключевые слова:

Стр.:

P.19-29.

Библиография:

Bibliogr.: p.28.

Издательство:

Источник:

Номер:

Том:

Карточка:

В3.14.

Chakraborty T. J., Davidson S., Maamari F., Cheng K. -T..

Automatic Test Generation for Digital Electronic Circuits: Springer// AT&T Technical J.-1994, №2.-Vol. 73.-P.19-29.
Bibliogr.: p.28.

Таблица в старой библиотеке:

PAP8 960