Boundary-Scan Testing for Electronic Subassemblies and Systems

Вы здесь

Автор:

Количество экземпляров:

Вид:

Статья из сборника или журнала

Год:

1994

Ключевые слова:

Стр.:

P.40-48.

Библиография:

Bibliogr.: p.47.

Издательство:

Источник:

Номер:

Том:

Карточка:

В3.14.

Yau C. W., Beausang J., Crane F. E., Jarwala N. T., Tulloss R. E..

Boundary-Scan Testing for Electronic Subassemblies and Systems: Springer// AT&T Technical J.-1994, №2.-Vol. 73.-P.40-48.
Bibliogr.: p.47.

Таблица в старой библиотеке:

PAP8 962