Вы здесь
Hierarchical Test Analysis of VLSI Circuits for Random BIST
Количество экземпляров:
1
Вид:
Статья из сборника или журнала
Год:
1994
Ключевые слова:
Стр.:
P.271-288.
Библиография:
Bibliogr.: p.288.
Источник:
Том:
852
Карточка:
А3.44, А3.23.
Masseboeuf G., Pulou J., Rainard J. L..
Hierarchical Test Analysis of VLSI Circuits for Random BIST// Lecture Notes in Computer Science-1994.-Vol. 852.-P.271-288.
Bibliogr.: p.288.
Таблица в старой библиотеке:
PAP9 924