Вы здесь

Hierarchical Test Analysis of VLSI Circuits for Random BIST

Количество экземпляров: 
1
Вид: 
Статья из сборника или журнала
Год: 
1994
Стр.: 
P.271-288.
Библиография: 
Bibliogr.: p.288.
Том: 
852
Карточка: 

А3.44, А3.23.

Masseboeuf G., Pulou J., Rainard J. L..

Hierarchical Test Analysis of VLSI Circuits for Random BIST// Lecture Notes in Computer Science-1994.-Vol. 852.-P.271-288.
Bibliogr.: p.288.

Таблица в старой библиотеке: 
PAP9 924