Вы здесь
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Proc./Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 2018
Количество экземпляров:
1
Вид:
Сборник или журнал
Год:
2018
Ключевые слова:
Стр.:
524 p.
Редактор:
Место издания:
Том:
11004
Карточка:
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Proc./Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 2018Ed. by Bai X., Hancock E. R., Ho T.K., Wilson R. C..-Berlin., 2018.-Vol. 11004.-524 p.