An Overview of Deterministic Functional RAM Chip Testing

Вы здесь

Автор:

Количество экземпляров:

Вид:

Статья из сборника или журнала

Год:

1990

Ключевые слова:

Стр.:

P.5-33.

Библиография:

Bibliogr.: p.32-33

Источник:

Номер:

Том:

Карточка:

А5.15, В3.14.

Van De Good A. J., Verruijt C. A..

An Overview of Deterministic Functional RAM Chip Testing// ACM Computing Surveys-1990, №1.-Vol. 22.-P.5-33.
Bibliogr.: p.32-33

Таблица в старой библиотеке:

ACM2 695